PROGRAMA: 09:00-09:15: Introdução à Dias de Sousa SA. 09:15-10:45: Introdução à TESCAN e ao portfolio de produtos. 10:45-11:15: Sistemas SEM por Emissão Térmica (Tungsténio) versus Sistemas SEM por Emissão de Campo ? Modelos VEGA/MIRA e as Principais Aplicações. 11:15-11:45: Coffee break 11:45-12:15: Sistemas SEM com Feixe de Iões Focalizados (FIB-SEM) e Plasma FIB-SEM - Principais Aplicações. 12:15-12:45: Várias Possibilidades de Análise - Dectores 3D EDS/EBSD e TOF-SIMS (solução exclusiva da Tescan. 12:45-13:15: Sessão Perguntas&Respostas; Recolha, identificação das amostras para análise. Breve discussão do objectivo de análise. Oradores: Martin Suchánek (Direct Sales Manager) e Hana Tesarová, Head of Material Science Application Group. |